二氧化硅4站式比表面积仪
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发布时间:2010-11-4 13:02:27
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金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性*好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模*大,*通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动静态法4站式比表面积仪技术参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定, t-plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积)
测量精度:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb*的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命
液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命
样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命
压力测量:采用原装进口压力传感器测量压力,显著提高低 P/Po点下测试精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),压力传感器必须提供进口检测证书
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995
极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表