X射线荧光光谱仪EDX4500H检测固体/粉末中化学元素含量
粉末压片法

固体矿石、砂岩或金属粉末类产品含量一直采用滴定、比色等原始的化学分析方法进行测定，分析方法繁琐，人为影响因素大，且劳动强度大，分析周期长，越来越不能够满足企业的实际测试需求，现推荐X射线荧光光谱法测定其中的化学元素含量，操作方法简单，排除了人为误差，节省了测试时间，提高工作效率，分析歩奏如下：
1.将样品研磨至200目（研磨机）。
2.放入压片机压成饼，压力在40t，保压时间30s（压片机）。
3.卸压后取出样片，吹去表面杂质后待测。
4.将样品放入仪器测试窗，电脑上点击开始检测，时间60-300S可调。
5.测试完成后自动生成报告，可存为电子档或打印。

所需设备：
1.X射线荧光光谱仪EDX4500H
2.研磨机
3.压片机

X射线荧光光谱仪EDX4500H 技术协议

一.技术指标：
1.1分析元素范围：Na-U
1.2测量精度：0.05%（含量大于96%的样品）
1.3元素测量范围：PPM级-99.99%
1.4 高压：5kV-50kV
1.5 管流：50μA-1000μA
1.6 能量分辨率：145±5eV
1.7 RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br*低达2ppm（因基体不同检出限可能存在一定差异）。
1.8 测量时间：60s-300s
1.9 计数率：计数率可高至100000cps
二.工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。


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